Séminaire pratique : "Du capteur au rapport de test"

 
National Instruments

Les exigences toujours plus nombreuses pour les systèmes de mesure et de test obligent les développeurs à concevoir sans cesse de nouveaux systèmes d’acquisition, d’analyse et de représentation de données de mesure. Dans le domaine du test, le nombre de paramètres à tester augmente constamment si bien qu’il est indispensable de soumettre les systèmes automatisés à des tests de validation mais également tout au long de la conception.

 

Dans notre séminaire « Du capteur au rapport de test », vous découvrirez comment développer, à l’aide de matériels et logiciels National Instruments, des systèmes de mesure et de test faisant preuve d’une grande flexibilité et adaptabilité. Nous aborderons en début de séminaire l’utilisation, avec le logiciel NI LabVIEW, de systèmes de bus tels que le GPIB, l’Ethernet ou une interface série pour commander des appareils externes. Ensuite, nous nous intéresserons aux différentes plates-formes d’acquisition de données, à commencer par les modules « Plug and play » jusqu’à l’acquisition de données performante et synchronisable grâce aux cartes PCI et PXI.

 

Étant donné que les cartes E/S standard ne suffisent plus ou presque pour les systèmes de commande et de réglage, on met en place, depuis plus de 25 ans dans presque tous les secteurs, des composants FPGA et la logique programmable. NI propose depuis dix ans des FPGA configurables afin de réaliser des applications perfectionnées et des applications niches. Vous découvrirez comment programmer facilement et de manière graphique ce circuit intégré.

 

La dernière partie du séminaire sera consacrée au domaine de l‘automatisation. Nous vous montrerons des systèmes de test automatisés que vous pouvez créer à partir de la plate-forme modulaire PXI afin d’obtenir un meilleur débit, une plus grande flexibilité et des coûts globaux réduits. Il est possible de mettre en place des systèmes de test et de produire des rapports de test à l’aide du logiciel NI TestStand. En revanche, si vous travaillez avec des données de mesure existantes, le logiciel NI DIAdem est la solution idéale pour la gestion, l’analyse de données et la production de rapports.

 

Nous nous réjouissons de votre participation !

 

Inscription 

03.04.2012 à Saint-Sulpice | 09:00 - 13:00                                                                               S'inscrire
Starling Hotel at EPFL
Route cantonale 31, Saint-Sulpice, CH 1025

Dates en Suisse allemande »

Contact

E-mail: ni.switzerland@ni.com, Fax: 056 / 200 51 55, Téléphone: 056 / 200 51 51

 

Parmi les produits présentés lors du séminaire :

 

NI LabVIEW

LabVIEW est un environnement de programmation graphique utilisé par des millions d'ingénieurs et de scientifiques.

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NI PXI

De toutes les plates-formes destinées au test, à la mesure et au contrôle, le PXI offre la bande passante la plus large.

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Acquisition de données (DAQ)

Les matériels d'acquisition de données de NI fournissent à votre application des technologies de pointe.

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